| Studiju veids |
bakalaura profesionālās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Medicīnas inženierija un fizika |
| Nosaukums |
Atomspēka mikroskopa adatiņas nodiluma atkarība no parauga materiāla cietības un skenētās trases garuma |
| Nosaukums angļu valodā |
Impact of the Material Hardness and Scanned Path Length on Atomic Force Microscope Tip Wear |
| Struktūrvienība |
31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte |
| Darba vadītājs |
Viktorija Vendiņa |
| Recenzents |
|
| Anotācija |
Šī darba mērķis ir noskaidrot vai atkarībā no pētāmā materiālas cietības un skenētās trases garuma mainās adatiņas nodilums un vai šis nodilums ietekmē kontakta potenciāla starpības (KPS) mērījumus, strādājot ar Kelvina Zondes Spēka Mikroskopijas (KZSM) režīmu.
Bakalaura darbs sastāv no ievada, literatūras apskata, metodikas apraksta, izmantoto iekārtu apraksta, rezultātu analīzes, secinājumiem un rekomendācijām.
Lai sasniegtu darba mērķi, KZSM režīmā tika skenēti dažādu cietību materiāli, un pēc tam iegūtas adatiņu virsotņu rekonstrukcijas, kuras tika analizētas.
Rezultātā tika iegūts gan vizuāli novērtējams, gan skaitliski novērtējams adatiņas nodilums, kā arī KPS mērījumu izmaiņas atkarībā no skenētās trases garuma un parauga materiāla cietības.
Bakalaura darbs sastāv no 3 tabulām un 38 attēliem. Kopējais darba apjoms neskaitot pielikumu ir 57 lapaspuses. |
| Atslēgas vārdi |
kelvina zondes spēka mikroskopija; kontakta potenciālu ptarpība, adatiņas nodilums |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
kelvin probe force microscopy, contact potential difference, tip wear. |
| Valoda |
lv |
| Gads |
2013 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
30.05.2013 10:58:05 |
