| Form of studies |
Professional Bachelor |
| Title of the study programm |
Medical Engineering and Physics |
| Title in original language |
Atomspēka mikroskopa adatiņas nodiluma atkarība no parauga materiāla cietības un skenētās trases garuma |
| Title in English |
Impact of the Material Hardness and Scanned Path Length on Atomic Force Microscope Tip Wear |
| Department |
Faculty Of Civil And Mehanical Engineering |
| Scientific advisor |
Viktorija Vendiņa |
| Reviewer |
|
| Abstract |
Šī darba mērķis ir noskaidrot vai atkarībā no pētāmā materiālas cietības un skenētās trases garuma mainās adatiņas nodilums un vai šis nodilums ietekmē kontakta potenciāla starpības (KPS) mērījumus, strādājot ar Kelvina Zondes Spēka Mikroskopijas (KZSM) režīmu.
Bakalaura darbs sastāv no ievada, literatūras apskata, metodikas apraksta, izmantoto iekārtu apraksta, rezultātu analīzes, secinājumiem un rekomendācijām.
Lai sasniegtu darba mērķi, KZSM režīmā tika skenēti dažādu cietību materiāli, un pēc tam iegūtas adatiņu virsotņu rekonstrukcijas, kuras tika analizētas.
Rezultātā tika iegūts gan vizuāli novērtējams, gan skaitliski novērtējams adatiņas nodilums, kā arī KPS mērījumu izmaiņas atkarībā no skenētās trases garuma un parauga materiāla cietības.
Bakalaura darbs sastāv no 3 tabulām un 38 attēliem. Kopējais darba apjoms neskaitot pielikumu ir 57 lapaspuses. |
| Keywords |
kelvina zondes spēka mikroskopija; kontakta potenciālu ptarpība, adatiņas nodilums |
| Keywords in English |
kelvin probe force microscopy, contact potential difference, tip wear. |
| Language |
lv |
| Year |
2013 |
| Date and time of uploading |
30.05.2013 10:58:05 |
