| Studiju veids |
bakalaura profesionālās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Medicīnas inženierija un fizika |
| Nosaukums |
Stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģija virsmas potenciāla mērījumiem ar Kelvina zondes spēku mikroskopiju |
| Nosaukums angļu valodā |
The Technology of Glass Specimen Preparation for Kelvin Probe Force Microscopy |
| Struktūrvienība |
31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte |
| Darba vadītājs |
Profesors Jurijs Dehtjars |
| Recenzents |
Viktorija Vendiņa |
| Anotācija |
Inženierprojekta darba mērķis ir izpētīt, kā stikla paraugu virsmas elektriskais potenciāls mainās atkarībā no ārējo faktoru ietekmes, kā arī izstrādāt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģiju Kelvina zondes spēku mikroskopijas mērījumiem. Darba uzdevumi ir: izanalizēt stikla paraugu sagatavošanas metodes AFM mērījumiem; izpētīt, kā mainās paraugu virsmas elektriskais potenciāls atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā mitruma, apgaismojuma intensitātes; izprojektēt stikla paraugu glabāšanas konteineri; aprēķināt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas izmaksas; izveidot stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas shēmu; izplānot stikla paraugu sagatavošanas
iecirkņa telpas izkārtojumu, piemērot un aprakstīt civilo un apkārtējās vides aizsardzību,
izmantojot stikla sagatavošanas tehnoloģiju.
Darbs sastāv no ievada, analītiskā apskata daļas, pētījumu daļas, tehnoloģiskās
daļas, ekonomisko aprēķinu daļas, darba, apkārtējās vides un civilās aizsardzības apraksta izstrādātai stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijai, pētījumu rezultātu secinājumiem un rekomendācijām.
Darbs pierāda, ka pirms stikla paraugu virsmas potenciāla mērījumiem ar
atomspēku mikroskopu ir jāveic katra parauga individuālie kalibrēšanas mērījumi atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā gaisa mitruma un atmosfēras spiediena.
Darbs ir rakstīts latviešu valodā un darba apjoms ir 71 lpp.,18 tabulas, 19 attēli. Darbā izmantoti 49 literatūras avoti. |
| Atslēgas vārdi |
Kelvina zonde, KZSM, virsmas elektriskais potenciāls, stikls, paraugu sagatavošana ASM mērījumiem |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
Kelvin probe, KPFM, electrical surface potential, glass, specimens preparation for AFM measurments |
| Valoda |
lv |
| Gads |
2013 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
07.01.2013 18:13:25 |
