Graduate papers
  
Description of the graduate paper
Form of studies Professional Bachelor
Title of the study programm Medical Engineering and Physics
Title in original language Stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģija virsmas potenciāla mērījumiem ar Kelvina zondes spēku mikroskopiju
Title in English The Technology of Glass Specimen Preparation for Kelvin Probe Force Microscopy
Department Faculty Of Civil And Mehanical Engineering
Scientific advisor Profesors Jurijs Dehtjars
Reviewer Viktorija Vendiņa
Abstract Inženierprojekta darba mērķis ir izpētīt, kā stikla paraugu virsmas elektriskais potenciāls mainās atkarībā no ārējo faktoru ietekmes, kā arī izstrādāt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģiju Kelvina zondes spēku mikroskopijas mērījumiem. Darba uzdevumi ir: izanalizēt stikla paraugu sagatavošanas metodes AFM mērījumiem; izpētīt, kā mainās paraugu virsmas elektriskais potenciāls atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā mitruma, apgaismojuma intensitātes; izprojektēt stikla paraugu glabāšanas konteineri; aprēķināt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas izmaksas; izveidot stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas shēmu; izplānot stikla paraugu sagatavošanas iecirkņa telpas izkārtojumu, piemērot un aprakstīt civilo un apkārtējās vides aizsardzību, izmantojot stikla sagatavošanas tehnoloģiju. Darbs sastāv no ievada, analītiskā apskata daļas, pētījumu daļas, tehnoloģiskās daļas, ekonomisko aprēķinu daļas, darba, apkārtējās vides un civilās aizsardzības apraksta izstrādātai stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijai, pētījumu rezultātu secinājumiem un rekomendācijām. Darbs pierāda, ka pirms stikla paraugu virsmas potenciāla mērījumiem ar atomspēku mikroskopu ir jāveic katra parauga individuālie kalibrēšanas mērījumi atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā gaisa mitruma un atmosfēras spiediena. Darbs ir rakstīts latviešu valodā un darba apjoms ir 71 lpp.,18 tabulas, 19 attēli. Darbā izmantoti 49 literatūras avoti.
Keywords Kelvina zonde, KZSM, virsmas elektriskais potenciāls, stikls, paraugu sagatavošana ASM mērījumiem
Keywords in English Kelvin probe, KPFM, electrical surface potential, glass, specimens preparation for AFM measurments
Language lv
Year 2013
Date and time of uploading 07.01.2013 18:13:25