| Form of studies |
Professional Bachelor |
| Title of the study programm |
Medical Engineering and Physics |
| Title in original language |
Stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģija virsmas potenciāla mērījumiem ar Kelvina zondes spēku mikroskopiju |
| Title in English |
The Technology of Glass Specimen Preparation for Kelvin Probe Force Microscopy |
| Department |
|
| Scientific advisor |
Profesors Jurijs Dehtjars |
| Reviewer |
Viktorija Vendiņa |
| Abstract |
Inženierprojekta darba mērķis ir izpētīt, kā stikla paraugu virsmas elektriskais potenciāls mainās atkarībā no ārējo faktoru ietekmes, kā arī izstrādāt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģiju Kelvina zondes spēku mikroskopijas mērījumiem. Darba uzdevumi ir: izanalizēt stikla paraugu sagatavošanas metodes AFM mērījumiem; izpētīt, kā mainās paraugu virsmas elektriskais potenciāls atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā mitruma, apgaismojuma intensitātes; izprojektēt stikla paraugu glabāšanas konteineri; aprēķināt stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas izmaksas; izveidot stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijas shēmu; izplānot stikla paraugu sagatavošanas
iecirkņa telpas izkārtojumu, piemērot un aprakstīt civilo un apkārtējās vides aizsardzību,
izmantojot stikla sagatavošanas tehnoloģiju.
Darbs sastāv no ievada, analītiskā apskata daļas, pētījumu daļas, tehnoloģiskās
daļas, ekonomisko aprēķinu daļas, darba, apkārtējās vides un civilās aizsardzības apraksta izstrādātai stikla paraugu sagatavošanas tehnoloģijai, pētījumu rezultātu secinājumiem un rekomendācijām.
Darbs pierāda, ka pirms stikla paraugu virsmas potenciāla mērījumiem ar
atomspēku mikroskopu ir jāveic katra parauga individuālie kalibrēšanas mērījumi atkarībā no gaisa temperatūras, relatīvā gaisa mitruma un atmosfēras spiediena.
Darbs ir rakstīts latviešu valodā un darba apjoms ir 71 lpp.,18 tabulas, 19 attēli. Darbā izmantoti 49 literatūras avoti. |
| Keywords |
Kelvina zonde, KZSM, virsmas elektriskais potenciāls, stikls, paraugu sagatavošana ASM mērījumiem |
| Keywords in English |
Kelvin probe, KPFM, electrical surface potential, glass, specimens preparation for AFM measurments |
| Language |
lv |
| Year |
2013 |
| Date and time of uploading |
07.01.2013 18:13:25 |
