| Studiju veids |
bakalaura profesionālās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Medicīnas inženierija un fizika |
| Nosaukums |
Alfa Daļiņu Treku Detektēšanas Iespējas Stiklā un Silīcijā ar Kelvin zondes metodi |
| Nosaukums angļu valodā |
Possibilities to Detect Alpha Particles Tracks in Glass and Silicon Using Kelvin Probe |
| Struktūrvienība |
31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte |
| Darba vadītājs |
Jurijs Dehtjars |
| Recenzents |
Sokolovs Aleksandrs |
| Anotācija |
Bakalaura darba mērķis ir pierādīt vai atspēkot iespēju izmantot virsmas kontaktpotenciālu starpību alfa daļiņu treku detektēšanai stiklā un silīcijā. Darba uzdevumi ir: konvencionālās -daļiņu detektēšanas tehnikas problēmu formulēšana, alfa daļiņu iekļūšanas dziļuma stiklā un silīcijā aprēķins; apstaroto paraugu skenēšana ar Kelvin probe metodi; iegūto rezultātu apkopošana; secinājumi par šīs metodes pielietojuma iespējamību alfa daļiņu treku detektēšanai.
Darbs sastāv no ievada, analītiskā apskata daļas, izmantoto instrumentu un metožu apraksta, pētījumu rezultātu analīzes un secinājumiem.
Darbs pierāda, ka stikla virsmas potenciāla sadalījuma blīvuma 2 maksimumu attiecība raksturojas ar -daļiņu ekspozīcijas laiku.
Darbs ir rakstīts latviešu valodā un darba apjoms ir 51 lpp., 11 tabulas, 22 attēli. Darbā izmantoti 42 literatūras avoti. |
| Atslēgas vārdi |
Kelvina zonde, kontaktpotenciālu starpība, alfa-daļiņu treks, nanodozimetrija, virsmas potenciāls |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
Kelvin probe, contact potential difference, alpha-particle track, nanodosimetry, surface potential |
| Valoda |
lv |
| Gads |
2012 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
31.05.2012 11:13:52 |
