| Form of studies |
Professional Bachelor |
| Title of the study programm |
Medical Engineering and Physics |
| Title in original language |
Alfa Daļiņu Treku Detektēšanas Iespējas Stiklā un Silīcijā ar Kelvin zondes metodi |
| Title in English |
Possibilities to Detect Alpha Particles Tracks in Glass and Silicon Using Kelvin Probe |
| Department |
|
| Scientific advisor |
Jurijs Dehtjars |
| Reviewer |
Sokolovs Aleksandrs |
| Abstract |
Bakalaura darba mērķis ir pierādīt vai atspēkot iespēju izmantot virsmas kontaktpotenciālu starpību alfa daļiņu treku detektēšanai stiklā un silīcijā. Darba uzdevumi ir: konvencionālās -daļiņu detektēšanas tehnikas problēmu formulēšana, alfa daļiņu iekļūšanas dziļuma stiklā un silīcijā aprēķins; apstaroto paraugu skenēšana ar Kelvin probe metodi; iegūto rezultātu apkopošana; secinājumi par šīs metodes pielietojuma iespējamību alfa daļiņu treku detektēšanai.
Darbs sastāv no ievada, analītiskā apskata daļas, izmantoto instrumentu un metožu apraksta, pētījumu rezultātu analīzes un secinājumiem.
Darbs pierāda, ka stikla virsmas potenciāla sadalījuma blīvuma 2 maksimumu attiecība raksturojas ar -daļiņu ekspozīcijas laiku.
Darbs ir rakstīts latviešu valodā un darba apjoms ir 51 lpp., 11 tabulas, 22 attēli. Darbā izmantoti 42 literatūras avoti. |
| Keywords |
Kelvina zonde, kontaktpotenciālu starpība, alfa-daļiņu treks, nanodozimetrija, virsmas potenciāls |
| Keywords in English |
Kelvin probe, contact potential difference, alpha-particle track, nanodosimetry, surface potential |
| Language |
lv |
| Year |
2012 |
| Date and time of uploading |
31.05.2012 11:13:52 |
