| Studiju veids |
bakalaura akadēmiskās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Elektronika |
| Nosaukums |
"Dielektrisku slāņu biezuma mērīšana ar reflektometrijas metodi" |
| Nosaukums angļu valodā |
"Dielectric Slabs Thickness Measurement Using the Time Domain Reflectometry Method" |
| Struktūrvienība |
13200 Radioelektronikas institūts |
| Darba vadītājs |
Jānis Semeņako |
| Recenzents |
Vadims Ņikitins, RTU, ETF |
| Anotācija |
Bakalaura darbā tiek veikts teorētisks pētījums par dielektrisku materiālu slāņu biezuma mērīšanu, ja pielieto laika atkarīgu reflektometriju un mērījumiem izmanto noteiktas formas impulsu. Tiek skatīti varianti, kad vidēs (mērāmajā slānī un vidē aiz slāņa) dispersija ir minimāla un arī gadījumi, kad noteiktā frekvenču apgabalā, kādas vides dielektriskās īpašības būtiski mainās. Tiek pētīts, kā vidu dispersija ietekmē mērījumu rezultātus un tiek dotas pārrēķinu shēmas rezultātu precizēšanai, ja dispersija ir būtiska un ir stipri izteikta mērsignāla spektra būtiskajā apgabalā. Teorētiskie aprēķini tiek salīdzināti ar eksperimentiem, kuri tika veikti Elektronikas un Datorzinātņu institūtā un tika nofiksēta laba rezultātu sakritība. Darbs dod iespējas veikt mērījumus slāņiem ar izteiktu dispersiju. Šāda veida pētījumi līdz šim nav tikuši publicēti un ir oriģināli.
Bakalaura darbs sastāv no 79 lpp., 8 tabulām, 37 attēliem, 2 pielikumiem un 33 informācijas avotiem. |
| Atslēgas vārdi |
dielektrisku slāņu biezuma mērīšana, laika atkarīga reflektometrija |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
dielectric slab thickness measurement, time domain reflectometry |
| Valoda |
lv |
| Gads |
2015 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
10.06.2015 04:23:28 |
