| Form of studies |
Bachelor |
| Title of the study programm |
Electronics |
| Title in original language |
"Dielektrisku slāņu biezuma mērīšana ar reflektometrijas metodi" |
| Title in English |
"Dielectric Slabs Thickness Measurement Using the Time Domain Reflectometry Method" |
| Department |
13200 Institute of Radioelectronics |
| Scientific advisor |
Jānis Semeņako |
| Reviewer |
Vadims Ņikitins, RTU, ETF |
| Abstract |
Bakalaura darbā tiek veikts teorētisks pētījums par dielektrisku materiālu slāņu biezuma mērīšanu, ja pielieto laika atkarīgu reflektometriju un mērījumiem izmanto noteiktas formas impulsu. Tiek skatīti varianti, kad vidēs (mērāmajā slānī un vidē aiz slāņa) dispersija ir minimāla un arī gadījumi, kad noteiktā frekvenču apgabalā, kādas vides dielektriskās īpašības būtiski mainās. Tiek pētīts, kā vidu dispersija ietekmē mērījumu rezultātus un tiek dotas pārrēķinu shēmas rezultātu precizēšanai, ja dispersija ir būtiska un ir stipri izteikta mērsignāla spektra būtiskajā apgabalā. Teorētiskie aprēķini tiek salīdzināti ar eksperimentiem, kuri tika veikti Elektronikas un Datorzinātņu institūtā un tika nofiksēta laba rezultātu sakritība. Darbs dod iespējas veikt mērījumus slāņiem ar izteiktu dispersiju. Šāda veida pētījumi līdz šim nav tikuši publicēti un ir oriģināli.
Bakalaura darbs sastāv no 79 lpp., 8 tabulām, 37 attēliem, 2 pielikumiem un 33 informācijas avotiem. |
| Keywords |
dielektrisku slāņu biezuma mērīšana, laika atkarīga reflektometrija |
| Keywords in English |
dielectric slab thickness measurement, time domain reflectometry |
| Language |
lv |
| Year |
2015 |
| Date and time of uploading |
10.06.2015 04:23:28 |
