Noslēguma darbu reģistrs
  
Studiju darba apraksts
Studiju veids bakalaura profesionālās studijas
Studiju programmas nosaukums Medicīnas inženierija un fizika
Nosaukums Oftalmoloģijas aparatūras stenda pielāgošana izmeklējumiem cilvēkiem ratiņkrēslos
Nosaukums angļu valodā Adjustment of Ophtalmic Stand to Perform Examinations for People in Wheelchairs
Struktūrvienība 31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte
Darba vadītājs Viktorija Vendiņa
Recenzents Juris Rauziņš, AB MEDICAL GROUP RIGA, Ltd  speciālists
Anotācija Bakalaura darba mērķis ir izpētīt kaula virsmas īpašību - morfoloģijas, elektriskā potenciāla, elektronu izejas darba - izmaiņas laikā. Virsmas morfoloģija tika noteikta izmantojot Atomspēku mikroskopiju, elektriskais potenciāls tika noteikts izmantojot Kelvina zondes spēka mikroskopijas metodi un elektronu izejas darbs- izmantojot fotoelektronu emisijas spektroskopiju. Darba mērķa sasniegšanai ir nepieciešams veikt literatūras apskatu par kaula materiālu, izstrādāt pētījuma metodi kaulu paraugu relaksācijas pētījumiem, aprakstīt izmantoto aparatūru un metodes, sagatavot kaula paraugus pētīšanai, veikt pētījumus, aprakstīt tos, apstrādāt un analizēt iegūtos rezultātus Balstoties uz bakalaura darbā iegūtajiem, apstrādātajiem un analizētajiem datiem, tika izdarīti secinājumi par kaula paraugu virsmas parametru izmaiņām laikā, kā arī iegūti papildus secinājumi par kaulu paraugu virsmas parametru korelāciju savā starpā kā arī ar elastības moduli. Bakalaura darbs sastāv no ievada, analītiskās apskata daļas, pētījumu metodoloģijas un instrumentu apraksta, pētījumu rezultātu apstrādes un apraksta, pētījuma rezultātātiem un to analīzes, secinājumiem un rekomendācijām. Bakalaura darbs sastāv no 59 lappusēm. Tajā ir iekļautas 8 tabulas, 39 attēli un izmantoti 19 literatūras avoti.
Atslēgas vārdi Kauls, kaula paraugi, virsmas relaksācija, atomspēku mikroskopija, kelvina zondes spēka mikroskopija, fotoelektronu emisijas spektroskopija
Atslēgas vārdi angļu valodā Bone, bone specimen, surface relaxation, atomic force microscopy, kelvin probe force microscopy, fotoelectron emission
Valoda lv
Gads 2015
Darba augšupielādes datums un laiks 25.05.2015 15:15:17