| Studiju veids |
bakalaura profesionālās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Medicīnas inženierija un fizika |
| Nosaukums |
Oftalmoloģijas aparatūras stenda pielāgošana izmeklējumiem cilvēkiem ratiņkrēslos |
| Nosaukums angļu valodā |
Adjustment of Ophtalmic Stand to Perform Examinations for People in Wheelchairs |
| Struktūrvienība |
31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte |
| Darba vadītājs |
Viktorija Vendiņa |
| Recenzents |
Juris Rauziņš, AB MEDICAL GROUP RIGA, Ltd speciālists |
| Anotācija |
Bakalaura darba mērķis ir izpētīt kaula virsmas īpašību - morfoloģijas, elektriskā potenciāla, elektronu izejas darba - izmaiņas laikā. Virsmas morfoloģija tika noteikta izmantojot Atomspēku mikroskopiju, elektriskais potenciāls tika noteikts izmantojot Kelvina zondes spēka mikroskopijas metodi un elektronu izejas darbs- izmantojot fotoelektronu emisijas spektroskopiju.
Darba mērķa sasniegšanai ir nepieciešams veikt literatūras apskatu par kaula materiālu, izstrādāt pētījuma metodi kaulu paraugu relaksācijas pētījumiem, aprakstīt izmantoto aparatūru un metodes, sagatavot kaula paraugus pētīšanai, veikt pētījumus, aprakstīt tos, apstrādāt un analizēt iegūtos rezultātus
Balstoties uz bakalaura darbā iegūtajiem, apstrādātajiem un analizētajiem datiem, tika izdarīti secinājumi par kaula paraugu virsmas parametru izmaiņām laikā, kā arī iegūti papildus secinājumi par kaulu paraugu virsmas parametru korelāciju savā starpā kā arī ar elastības moduli.
Bakalaura darbs sastāv no ievada, analītiskās apskata daļas, pētījumu metodoloģijas un instrumentu apraksta, pētījumu rezultātu apstrādes un apraksta, pētījuma rezultātātiem un to analīzes, secinājumiem un rekomendācijām.
Bakalaura darbs sastāv no 59 lappusēm. Tajā ir iekļautas 8 tabulas, 39 attēli un izmantoti 19 literatūras avoti. |
| Atslēgas vārdi |
Kauls, kaula paraugi, virsmas relaksācija, atomspēku mikroskopija, kelvina zondes spēka mikroskopija, fotoelektronu emisijas spektroskopija |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
Bone, bone specimen, surface relaxation, atomic force microscopy, kelvin probe force microscopy, fotoelectron emission |
| Valoda |
lv |
| Gads |
2015 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
25.05.2015 15:15:17 |
