Graduate papers
  
Description of the graduate paper
Form of studies Professional Bachelor
Title of the study programm Medical Engineering and Physics
Title in original language Oftalmoloģijas aparatūras stenda pielāgošana izmeklējumiem cilvēkiem ratiņkrēslos
Title in English Adjustment of Ophtalmic Stand to Perform Examinations for People in Wheelchairs
Department 15D00 Institute of Biomedical Engineering and Nanotechnologies
Scientific advisor Viktorija Vendiņa
Reviewer Juris Rauziņš, AB MEDICAL GROUP RIGA, Ltd  speciālists
Abstract Bakalaura darba mērķis ir izpētīt kaula virsmas īpašību - morfoloģijas, elektriskā potenciāla, elektronu izejas darba - izmaiņas laikā. Virsmas morfoloģija tika noteikta izmantojot Atomspēku mikroskopiju, elektriskais potenciāls tika noteikts izmantojot Kelvina zondes spēka mikroskopijas metodi un elektronu izejas darbs- izmantojot fotoelektronu emisijas spektroskopiju. Darba mērķa sasniegšanai ir nepieciešams veikt literatūras apskatu par kaula materiālu, izstrādāt pētījuma metodi kaulu paraugu relaksācijas pētījumiem, aprakstīt izmantoto aparatūru un metodes, sagatavot kaula paraugus pētīšanai, veikt pētījumus, aprakstīt tos, apstrādāt un analizēt iegūtos rezultātus Balstoties uz bakalaura darbā iegūtajiem, apstrādātajiem un analizētajiem datiem, tika izdarīti secinājumi par kaula paraugu virsmas parametru izmaiņām laikā, kā arī iegūti papildus secinājumi par kaulu paraugu virsmas parametru korelāciju savā starpā kā arī ar elastības moduli. Bakalaura darbs sastāv no ievada, analītiskās apskata daļas, pētījumu metodoloģijas un instrumentu apraksta, pētījumu rezultātu apstrādes un apraksta, pētījuma rezultātātiem un to analīzes, secinājumiem un rekomendācijām. Bakalaura darbs sastāv no 59 lappusēm. Tajā ir iekļautas 8 tabulas, 39 attēli un izmantoti 19 literatūras avoti.
Keywords Kauls, kaula paraugi, virsmas relaksācija, atomspēku mikroskopija, kelvina zondes spēka mikroskopija, fotoelektronu emisijas spektroskopija
Keywords in English Bone, bone specimen, surface relaxation, atomic force microscopy, kelvin probe force microscopy, fotoelectron emission
Language lv
Year 2015
Date and time of uploading 25.05.2015 15:15:17