| Studiju veids |
bakalaura profesionālās studijas |
| Studiju programmas nosaukums |
Medicīnas inženierija un fizika |
| Nosaukums |
Mikro un nano-plaisu elektriskais potenciāls kaulos |
| Nosaukums angļu valodā |
Micro- nad Nano-crack Electric Potential of Bone |
| Struktūrvienība |
31000 Būvniecības un mašīnzinību fakultāte |
| Darba vadītājs |
Jurijs Dehtjars |
| Recenzents |
Viktorija Vendiņa |
| Anotācija |
Kaulu mikro un nano plaisas elektriskais potenciāls
Aleksandrs Porohins
Rīgas Tehniskā Universitāte. Transporta un Mašīnzinību fakultāte, Biomedicīnas inženierzinātņu un nanotohnoloģiju institūts. Cetertais kurss. 2012.
Jurijs Dehtjars
Rīgas Tehniskā Universitāte. Darba vadītais. Biomedicīnas unženierzinātņu un nanotehnoloģujiu institūta direktors.
Annotācija
Darba mērķis ir izpētīt elektrisku potentciālu deformācijas rašanas vietas kā arī pirms un pēc deformācijas punktā.
Lai sasniegt mērķi bija piešķirti divi uzdevumi:
1. Kaula paraugu sagatavošana;
2. Elektrusko potenciālu mērīšana ar atomspēka mikroskopu pēc Kelvina zondes metodes.
Apkopoti teorētiskie dati par kaula un kaula plaisas fiziskām īpašībam; kaula remodelācijas procesiem; atomspēka mikroskopiju un mikro cietības mērīšanu.
Skaidri aprakstīti lielopu bedres kaula apstrādes metodika, pēc kuras tika iegūti kaula paraugi.
Ir sīki aprakstīti mikro un nano plaisas iegūšanas metodes.
Izpetīts elektriska potenciāla sadalījums apkart deformācijas rašanas punktu.
Pamatojoties uz analīzi par iegūtiem datiem ir konstatēts, ka kaula elektriskais potenciāls mainas slogojuma pielikšanas vietās. Konstatēts, ka vecums un slodze ietekmē uz elektrisku potencialu vērtību. Atrasts, ka attālums uz kuru izplatās elektriskais potenciāls pēc un pirms deformācijas punkta ir gadījuma lielums. |
| Atslēgas vārdi |
Elektriskais potenciāls, mikro un nano plaisas, augšstilbs, atomspēka mikroskopija |
| Atslēgas vārdi angļu valodā |
Electrical potential, bone micro and nano cracks, femur, atomic force microscopy |
| Valoda |
eng |
| Gads |
2012 |
| Darba augšupielādes datums un laiks |
29.05.2012 19:22:23 |
