Form of studies |
Professional Bachelor |
Title of the study programm |
Medical Engineering and Physics |
Title in original language |
Lāzera navigācijas paraugu pozicionēšanas sistēma ToF-SIMS spektrometram. |
Title in English |
Laser navigated sample positioning system for the ToF-SIMS spectrometer. |
Department |
Faculty Of Civil And Mehanical Engineering |
Scientific advisor |
Jurijs Dehtjars |
Reviewer |
Edgars Kuks |
Abstract |
Inženierprojekta mērķis ir izveidot lāzera navigācijas paraugu pozicionēšanas sistēmu ToF-SIMS spektrometram, lai nodrošinātu paaugstinātu parauga pozicionēšanas precizitāti pa z asi <16,6 μm vakuuma kamerā ar lāzera staru, kas projicējas 1,5 m attālumā no avota līdz parauga virsmai. Darbs veidots, konsultējoties ar IONTOF GmbH pārstāvi. Rezultātā izveidots aprēķinu paskaidrojošais apraksts, kā arī izstrādāta un aprakstīta grafiskā daļa. Darba grafiskās daļas realizācijai tika izmantota SolidWorks 2024 programma.
Inženierprojekta aprēķinu paskaidrojošais apraksts strukturēts, reflektējoties uz izvirzītajiem uzdevumiem, lai nodrošinātu lasītājam loģisku temata izklāstu. Galvenā daļa sastāv no ievada, analītiskās apskata daļas, optiskajiem un ekonomiskajiem aprēķiniem, specifisko bīstamību un grafiskās daļas analīzes. Nobeigumā apspriesti galvenie secinājumi par izstrādāto darbu “Lāzera navigācijas paraugu pozicionēšanas sistēma ToF-SIMS spektrometram”, izteiktas pateicības, izstrādāts izmantotās literatūras saraksts.
Inženierprojekta aprēķinu paskaidrojošais apraksts sastāv no 16 nodaļām un 26 apakšnodaļām, kopā 76 lapām latviešu valodā. Darbā iekļauti 26 attēli un 13 tabulas, izmantotas 76 bibliogrāfiskā saraksta vienības. |
Keywords |
Optiskā paraugu pozicionēšana, lāzera navigācija, pozicionēšanas precizitāte, ToF-SIMS, masas spektrometrija |
Keywords in English |
Optical sample positioning, laser navigation, positioning precision, positioning accuracy, ToF-SIMS, mass spectrometry |
Language |
lv |
Year |
2025 |
Date and time of uploading |
06.01.2025 13:15:40 |